Y波导调制器半波电压测试方法及装置
| 文献类型 | 专利 |
| 发明人 | 杨远洪[1];张惟叙[2];马静[3] |
| 机构 | 北京航空航天大学 ↓ |
| 申请人 | 北京航空航天大学 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 年度 | 2003 |
| 专利申请日期 | 2003-02-26 |
| 专利公开日期 | 2003-07-30 |
| 专利公开号 | CN1432793 |
| 专利申请号 | CN03105246.0 |
| 国家或地区 | 北京 |
| 人气指数 | 1 |
| 浏览次数 | 1 |
| 摘要 | 本发明设及一种Y波导调制器半波电压测试方法及装置。本发明将待测Y波导接入萨格纳克(Sagnac)干涉仪光路，形成完整的萨格纳克(Sagnac)干涉仪；将周期为4τ、阶梯高度相等，每个阶梯宽度为τ的数字阶梯波加在Y波导的调制电极上，用A/D技术将探测器输出波形上0～τ区间的电平V1和τ～4τ区间的电平V2的差作为判据；由低到高改变阶梯高度，用计算机计算V1和V2的差，当这个差为0时，记下阶梯高度值，根据阶梯高度值和半波电压的关系可准确得到Y波导的半波电压值。这种方法容易实现，精度高。光功率的变化、光路损耗和光路中存在的各种位相误差对测量的准确性都没有影响。可实现Y波导半波电压的高精度全自动测量。 |
影响因子：
dc:title:Y波导调制器半波电压测试方法及装置
dc:creator:杨远洪;张惟叙;马静
dc:date: publishDate:2003-02-26
dc:type:专利
dc:format: Media：
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：2003.
dc:identifier:DOI：
dc: identifier:ISBN:
