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使用BIT技术构造可自测试构件

文献类型	会议
作者	黄瑶[1];高仲仪[2];刘冬懿[3]
机构	[1]北京航空航天大学软件工程研究所(北京市 [2]北京航空航天大学软件工程研究所(北京市 [3]北京航空航天大学软件工程研究所(北京市 ↓
会议论文集	软件技术进展2003'全国软件与应用学术会议(NASAC)论文集
来源信息	年:2003页码范围:504-509
会议信息	2003'全国软件与应用学术会议ISSN:
关键词	软件测试;内嵌式测试;自测试构件;BIT技术;软件构件
摘要	本文主要讨论了使用BIT技术构造可自测试构件的实现方法.文中首先给出了BIT、可自测试构件、软件可测试性等定义,在此基础上阐述了使用BIT技术构造可自测试构件的四种方法,并对这些方法进行分析和比较.最后,讨论了使用BIT技术构造可自测试构件的应用前景.
所属部门	计算机学院
全文链接	http://d.g.wanfangdata.com.cn/Conference_4884755.aspx
会议地点	北京
会议开始日期	2003-10-01

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dc:title:使用BIT技术构造可自测试构件
dc:creator:黄瑶;高仲仪;刘冬懿
dc:date: publishDate:2003-10-01
dc:type:会议
dc:format: Media：2003'全国软件与应用学术会议
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：2003'全国软件与应用学术会议.2003,504-509.
dc:identifier:DOI：
dc: identifier:ISBN: