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工业计算机薄片层析及其板、壳材料检测

文献类型	期刊
作者	路宏年[1];杨民[2];张吉堂[3]
机构	[1]北京航空航天大学现代无损检测中心!100083,北京航空航天大学现代无损检测中心!100083,北京航空航天大学现代无损检测中心!100083 [2]北京航空航天大学现代无损检测中心!100083,北京航空航天大学现代无损检测中心!100083,北京航空航天大学现代无损检测中心!100083 [3]北京航空航天大学现代无损检测中心!100083,北京航空航天大学现代无损检测中心!100083,北京航空航天大学现代无损检测中心!100083 ↓
来源信息	年:2000期:S1页码范围:116-118
期刊信息	CT理论与应用研究ISSN:1004-4140
关键词	射线检测;ICT;板壳
摘要	本文讨论了工业射线计算机薄片层析（ＣＬ，Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｌａｍｉｎｏｇｒａｐｈｙ）在板、壳材料结构检测中的应用，研究了一种抑制环形伪像的重构方法，并对其应用与重构方法进行了实验研究和计算机模拟。
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dc:title:工业计算机薄片层析及其板、壳材料检测
dc:creator:路宏年;杨民;张吉堂
dc:date: publishDate:2000-12-30
dc:type:期刊
dc:format: Media：CT理论与应用研究
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：CT理论与应用研究.2000,116-118.
dc:identifier:DOI：
dc: identifier:ISBN:1004-4140