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电阻抗成像技术的原理及其发展

文献类型	期刊
作者	程吉宽[1];孙进平[2];杜岩[3];柳重堪[4]
机构	[1]北京航空航天大学电子工程系 [2]北京航空航天大学电子工程系 [3]北京航空航天大学电子工程系 [4]北京航空航天大学电子工程系 ↓
来源信息	年:1998期:02页码范围:17-20
期刊信息	北京航空航天大学学报ISSN:1001-5965
关键词	图像处理;重建;数据采集;反问题;电阻抗成像（EIT）
摘要	介绍了一种新的图像重建技术———电阻抗成像（ＥＩＴ）技术．它根据物体内部不同物质的导电参数（如电阻率、电容率）的不同，通过对物体表面电流、电压的施加及测量来获知物体内部导电参数的分布，进而重建出反映物体内部结构的图像．作为一个数学物理反问题，ＥＩＴ技术具有其本身的特点和难点，因而目前还处于探索性研究阶段．本文在ＥＩＴ数学物理模型基础上对整个ＥＩＴ技术作了较为全面的介绍，包括理论原理、技术上的难点、系统分析、以及目前国际国内的研究现况和研究方向．通过对ＡＣＴ３的介绍，对ＥＩＴ系统的具体实现也做了简要分析．
收录情况	PKUCSCD
所属部门	电子信息工程学院

影响因子：


信息与通信系孙进平

dc:title:电阻抗成像技术的原理及其发展
dc:creator:程吉宽;孙进平;杜岩,等
dc:date: publishDate:1998-04-30
dc:type:期刊
dc:format: Media：北京航空航天大学学报
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：北京航空航天大学学报.1998,17-20.
dc:identifier:DOI：
dc: identifier:ISBN:1001-5965