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低阻硅TSV高温工艺中的热力学分析

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低阻硅TSV高温工艺中的热力学分析
Thermal-Mechanical Analysis of Low Resistivity Silicon Through Silicon Via (TSV) During High Temperature Process
投稿时间:2016-09-13
DOI:10.15918/j.tbit1001-0645.2017.02.017
中文关键词:三维集成电路硅通孔低阻硅热膨胀
English Keywords:three dimensional integrationthrough silicon vialow resistivity siliconthermal expansion
基金项目:国家自然科研基金资助项目(61404008,61574016);"111"引智计划资助项目(B14010);北京理工大学基础研究基金资助项目(20130542015)
作者单位E-mail
王士伟北京理工大学 光电学院, 北京 100081
严阳阳北京理工大学 光电学院, 北京 100081
程志强北京理工大学 光电学院, 北京 100081
陈淑芬北京理工大学 光电学院, 北京 100081chensf55@sina.com
摘要点击次数:1164
全文下载次数:1575
中文摘要:
针对低阻硅TSV热力学研究的空白做出了相应的仿真分析.首先介绍了低阻硅TSV转接层的加工工艺,接着基于实验尺寸,在350℃工艺温度下,模拟了低阻硅TSV的涨出高度及应力分布.不同于铜基TSV,低阻硅TSV的涨出区域主要集中在聚合物绝缘层的上方.为了减小低阻硅TSV的涨出高度及热应力,分别对工艺温度、表面SiO2厚度、低阻硅TSV的直径、高度、间距和BCB绝缘层厚度进行了变参分析.结果表明,减小BCB绝缘层的厚度及高度以及增加表面SiO2厚度是抑制低阻硅TSV膨胀高度及减小热应力的有效方法.
English Summary:
This paper focuses on thermal mechanical analysis of low resistivity silicon through silicon via (LRS-TSV), since there are few researches on it. Firstly, the process flow for LRS-TSV based interposer was introduced. Then based on experimental dimension of LRS-TSV, protrusion height and thermal stress of LRS-TSV were simulated under 350℃. The simulation result shows that, compared with copper based TSV, protrusion area of LRS-TSV are mainly upon polymer insulation. To decrease protrusion height and thermal stress of LRS-TSV, factors such as process temperature, thickness of top SiO2 layer, LRS-TSV diameter, height, space and thickness of insulation were investigated respectively. From results, it shows that decreasing the thickness and height of insulation, increasing thickness of top SiO2 layer are effective solutions to reduce the protrusion height and release thermal stress.
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