报告地点：翡翠湖校区科教楼A座一楼第五会议室
报告人：李晓维 教授
工作单位：中国科学院计算技术研究所（中国科学院大学）
举办单位：电子科学与应用物理学院/微电子学院
报告人简介：
李晓维教授，中国科学院计算技术研究所研究员（中国科学院大学教授）博士生导师，现为计算机体系结构国家重点实验室常务副主任，主要研究方向包括数字集成电路测试、微处理器可靠设计、容错计算等。已发表学术论文280 余篇，出版学术专著4 本；曾获国家技术发明奖、国家科技进步奖；入选国家百千万人才工程和科技北京百名领军人才培养工程，获有突出贡献中青年专家、全国优秀科技工作者等荣誉称号。担任中国计算机学会理事、会士、JCST副主编。IEEE CS TTTC 副主席，IEEE TCAD、JETTA等国际期刊编委。
报告简介：
本报告重点介绍中科院计算所（测试与容错技术创新团队）过去十余年在微处理器全生命周期可靠设计方面的若干研究进展（包括分别发表于IEEE TC、IEEE TVLSI 和IEEE/ACM ISCA的工作成果），探讨从计算机体系结构角度来看微处理器的可靠设计（片上容错）。
