7． 熟练掌握线性光列阵两种基本形式。
8． 掌握图像扫描检测技术的检测原理、检测表达式和检测应用。
9． 熟练掌握飞点传真扫描、热敏照相机扫描、X线断层摄影扫描、抽取图像信息等方法。
10． 掌握光信息处理检测技术的检测原理、检测表达式和检测应用。
11． 熟练掌握取样法、滤波法、相关测量法的检测原理和表达式。
第二章    光扫描检测技术
6． 熟练掌握激光扫描测试技术的检测原理、检测表达式和检测应用。
7． 掌握相位调制扫描技术和光扫描定位技术的检测原理、检测表达式和检测应用。
8． 熟练熟练掌握表面特征检测的扫描技术的检测原理、检测表达式和检测应用。
9． 了解光扫描技术的其他应用。
第三章    光衍射检测技术；
7． 熟练掌握激光衍射检测原理、检测表达式。
8． 掌握激光衍射检测技术特点。
9． 熟练掌握激光衍射检测技术方案：（1）间隙计量法；（2）反射衍射法；（3）分离间隙法；（4）互补测定法；（5）爱里圆测定法。
10． 掌握激光衍射检测技术可能达到的灵敏度和测量精度，以及其测量范围。
11． 了解光衍射检测技术实际的应用。
第四章    光纤传感技术
6． 熟练掌握光纤传感器工作原理。
7． 掌握光纤传感器的应用。
8． 了解国内外光纤传感器研究动向。
9． 了解光纤实用技术。
第五章    光学纳米技术：；；
3． 熟练掌握纳米测量系统工作原理。
4． 掌握扫描隧道显微镜；原子力显微镜；激光力显微镜；光子扫描隧道显微镜；扫描近场光学显微镜；扫描探针显微镜工作原理。
5． 了解纳米测量的几个问题。
考试内容中基本理论、基本知识和基本技能性题目占80%左右，综合和实际应用题目（有一定难度的题目）不超过20%。
八、 试卷题型及比例
试题类型包括：填空题、是非判断题、多重选择题、简答题、画图题、计算题等，每年的试题类型从中选几类，其中填空题、是非判断题、多重选择题所占比例一般为40%左右，其他各类题型一般占60%左右 。试题反映本课程的主要内容和要求，适当均匀分布在上述内容中。
九、 考试形式及时间
考试形式为笔试。考试时间为3小时。
十、 其他参考教材（参考书目）
1．杨国光，《近代光学检测技术》，浙江大学出版社，1990
2．郁道银，工程光学，机械工业出版社，2000
 3．张凤林、孙学珠，工程光学，天津大学出版社，1988
 

课程编号：  409          课程名称: 《光电子学基础》

专业：     物理电子学，光电子技术

一、 考试的总体要求
要求考生掌握激光的基本原理和特性，光学谐振腔和激光器的工作特性，高斯光束的基本理论。
要求考生掌握激光技术的主要内容。
要求考生掌握《物理光学》课程的基础理论、基本知识，以及运用所学的理论解决实际问题的能力。要求考生能以光的电磁理论为基础，掌握光波在传播过程中所发生的各种现象的规律及其应用。

二、 考试的内容及比例（见附录）
《激光原理》占40%，《激光技术》占20%，《物理光学》占40%。

三、 考试的题型及比例
概念题占80%，运算题等占20%。

四、 考试形式及时间
考试形式为笔试，考试时间为3小时。

五、 主要参考书目（见附录）

附录
《激光原理》部分：
1．激光的基本概念(5％)
光的受激辐射基本概念；激光的特性。
2．光学谐振腔及高斯光束的基本理论(20％)
       (1)光腔理论的一般问题：光学谐振腔与模(纵模与横模)的基本概念；共轴球面腔的稳定性条件；光腔的损耗。
       (2)稳定球面腔：对称共焦腔的自再现模及其行波场及其计算。
       (3)高斯光束：高斯光束的基本性质；高斯光束q参数的变换规律(ABCD法则)；高斯光束的聚焦与准直；高斯光束的自再现变换与稳定球面腔；高斯光束模式的匹配。
3．激光器的工作特性(15％)
       (1)电磁场和物质相互作用：光谱线加宽和线型函数；自然加宽和碰撞加宽(均匀加宽)；多普勒加宽(非均匀加宽)；激光器的速率方程。
       (2)连续激光器的增益与工作特性：增益系数与小信号增益；均匀加宽、非均匀加宽及综合加宽工作物质的增益饱和特性；连续激光器的工作特性；单模激光器的线宽极限；激光器的频率牵引。
4．题型及比例：
试卷以问答题和计算题为主，辅以填空题。问答题占一40％，计算题占一60％。
5．主要参考教材
      《激光原理》，周炳琨，高以智，陈倜嵘, 陈家骅编著，国防工业出版社，
2000年版

《激光技术》部分

调制的基本概念、基本原理（振幅调制、强度调制、相位调制、频率调制、脉冲调制）；
实现调制的方法（电光调制、声光调制、直接调制）及其原理和结构。
调Q的基本概念和基本理论；
实现调Q的方法（电光调Q、声光调Q和被动式可饱和吸收调Q）及其原理和结构。
锁膜的基本概念和理论；
实现锁膜的方法：
(1) 主动锁膜（振幅调制锁膜、相位调制锁膜），主动锁膜激光器的结构及其设计要点。
(2) 被动锁膜的基本原理。
(3) 自锁膜的概念。

激光放大的基本概念；
脉冲放大器的理论，设计放大器应考虑的问题。
激光模式的基本概念；
横模选择原理和方法；
纵模选择原理和方法。

参考书：
《激光技术》， 蓝信钜等编著。
  

《物理光学》部分

光波的基本性质及其数学描述：
波动的数学描述和标量波：波动概念和性质；简谐平面波常用物理量：时间周期、空间周期、时间频率、空间频率、时间角频率（圆频率）、空间角频率（传播数）之间的关系；平面波、球面波的特点和表示方法及基模高斯波的特点；相位、等相面、相速度、群速度的概念；均匀波和非均匀波的概念；空间频率的概念和近z轴条件下的表达式。
偏振态：光波的五种偏振光：线偏振光、圆偏振光、椭圆偏振光、自然光和部分偏振光的特点及传播过程中的变化规律；产生线偏振光的方法；光波单色性与偏振的概念以及两者之间的关系。
电磁波：平面电磁波的性质；光强度（辐射通量密度）的概念和表达式 。
光波在各向同性媒质界面上的反射和折射：反射率、透射率和光强的关系及其影响因素；垂直入射时的菲涅尔公式；布儒斯特定律及布儒斯特角入射时反射光强和透射光强的关系；反射时产生相移（半波损失）的几种情况（尤其是垂直入射时）；外反射和全内反射时偏振态的变化；全内反射的条件和规律。
双光束干涉和多光束干涉：
（1）两单色波的干涉：相干和干涉的概念和两者间的关系；两点光源的干涉，形成空间回转双曲面的规律；干涉条纹的定域和非定域的概念和决定因素；光程差和位相差的概念、表达式和它们之间的关系；干涉条纹可见度的概念及影响干涉条纹可见度的因素。
（2）各种干涉现象的规律和特点：双缝干涉和薄板干涉的规律，装置中条件变化后，会分析光程差和位相差的变化；迈克尔逊干涉仪的特点及补偿板的作用。
（3）光波场的时间相干性和空间相干性：相干长度和相干时间的概念；时间相干性和空间相干性的概念，它们与光源性质的关系，两种相干性与干涉条纹可见度的关系。
（4）多光束干涉: 平行平板多光束干涉的规律和反射光、透射光相对光强表达式；法-珀干涉仪的特性，分光原理、滤光原理、自由光谱范围（标准具常数）的概念；光学薄膜中 膜系的单层膜和多层高反射膜的特点，会分析增加反射或透射的干涉原理。
光的衍射：
（1）衍射基本理论和两种衍射：标量衍射理论：记住常用菲涅尔－基尔霍夫衍射积分公式；菲涅尔衍射和夫琅和菲衍射的概念；两种衍射的主要区别；夫琅和菲衍射花样的重要性质。
（2）各种开孔的夫琅和菲衍射规律和应用：单缝衍射、圆孔衍射、双缝和多缝衍射的特点和规律、衍射角宽度、光强分布；提高光学仪器分辨本领的方法。
（3）衍射光栅原理和应用：光栅方程；最大光谱级次；光栅的分辨本领和色散本领的概念、表达式；闪耀光栅的原理及主闪耀条件。
（4）傅立叶光学在衍射中的应用：空间频率和空间滤波的概念；阿贝成像原理、 调制的概念；会画出各种开孔（单缝、圆孔、双缝、多缝、椭圆孔、方形孔、双圆孔、二维光栅等）的夫琅和菲衍射花样简图；干涉和衍射的相同点和不同点。
晶体光学：
（1）晶体光学的三个重要结论：晶体中波法线方向 与光线方向 分离，电位移矢量  与电场 分离，始终保持 ；在晶体中的每个波法线方向 允许两个相互垂直的、具有不同折射率和相速度的线偏振光o光和e光存在，o光垂直于光轴所在平面振动， e光在光轴所在平面内振动；对于正单轴晶体， ，光线方向 比波法线方向 更靠近光轴，对于负单轴晶体， ，光线方向 比波法线方向 更远离光轴，e光线方向 与波法线方向 存在分离角 。
（2）光波在晶体中传播的几何表示：折射率椭球和折射率曲面的性质；折射率椭球中波法线方向 平行于光轴、垂直于光轴、为任意方向的三种情况下，o光和e光传播方向和折射率的变化规律。

（3）平面光波在各向异性媒质界面上的反射和折射：存在双折射和双反射，记住光波经晶体后的相位延迟表达式 （所有的量均是对波法线方向 而言）；会分析在单轴晶体中波法线方向 平行于光轴、垂直于光轴、为任意方向的几种情况下，o光和e光在晶体中和出射晶体的传播方向、振动方向和偏振态的变化规律（参考书《物理光学与应用光学》pp.221-222的图4－31、32、33、34、35）。
（4）偏振器和补偿器的原理和应用：会分析光波在以格兰棱镜、渥拉斯顿棱镜为代表的偏振棱镜中的传播方向和偏振方向；掌握 波片和 波片的原理、作用及其应用。
（5）晶体的偏光干涉和旋光性：光波通过两个正交偏振器间的晶体后的干涉原理、两个偏振器的作用；晶体的偏光干涉与薄板、迈克尔逊干涉仪等干涉的区别；旋光性的规律，旋光片与半波片的区别。
《应用光学》部分的考试范围：
成象的基本概念；光在单球面上的反射和折射；理想光学系统的物像关系（高斯公式）和垂轴放大率；薄透镜焦距和成像公式；典型光学仪器（望远镜、显微镜等）原理。
主要参考资料：
（1）石顺祥，张海兴，刘劲松。《物理光学与应用光学》，西安：西安电子科技大学出版社，2000
（2）廖延彪。《物理光学》，北京：电子工业出版社，1986
（3）E.赫克特、A.赞斯著。《光学》，（上、下册）. 詹达三、秦克诚、林福成译.北京：人民教育出版社
（4）赵凯华、钟锡华。《光学》，（上、下册）.北京：北京大学出版社
（5）于  建。《物理光学补充习题与思考题》，（天津大学自编讲义），2002

课程编号： 410   课程名称：生物医学工程基础

一、 考试的总体要求

研究生入学考试本着基础和能力并重的原则，考试以基本概念、逻辑思维、完整的设计思想为主。考试内容主要是医用传感器和医学信息检测及处理，其目的在于考核考生对于医用学仪器的检测技术和数字信号处理的掌握情况。
要求掌握医用传感器的基本知识、基本概念、工作原理、特点及应用。要求考生熟悉医用传感器的定义，医用传感器的分类与组成，人体信息检测的特殊性，医用传感器的发展方向；医用传感器的基本特性（静态特性和动态特性）及其计算方法，掌握电阻式传感器、压电式传感器、光敏传感器、热敏传感器及化学与生物传感器的工作原理与应用；了解电容式、电磁式与磁敏式传感器的工作原理与特点。并能利用传感器组成人体信息测量系统，了解传感器与系统的接口、系统的结构框图。
要求掌握数字信号处理的基本概念和方法，包括线性时不变离散时间系统，采样与序列、数字滤波，熟练运用Z变换、DFT进行公式推导计算，掌握基2 FFT算法，能设计 IIR、FIR 数字滤波器。