贺德洪
电子系 高级工程师、研究生辅导员

所属学科：微电子学和固体电子学
研究方向：微电子可靠性；传感器；集成电路分析、组装和测试








暂缺

发表论文
1.用薄层电阻比评估VLSI互连金属薄膜可靠性 华东师范大学学报 1997.No.3 第一作者
入选CAChemical Abstracts1998.9 Vol.128 No.9
2.SMD含湿量对器件可靠性的影响 第二届SMD/SMT学术会议论文选 (优秀论文)
1996.10 重庆 第一作者
3.塑封器件可靠性快速评估的研究 微电子学与计算机 1996.No.2 第二作者
4.改进镀金管座的键合金属系统以提高超声键合强度 中国电子学会论文集(优秀论文) 1994.9； 入选中国科学技术文库 科学技术文献出版社 1996.10 第一作者
5.塑封表面安装器件可靠性的初步探讨 1995全国可靠性物理学术讨论会 第二作者
6.影响Ni-Al系统超声键合强度原因的探讨 理化检验-物理分册 1994.No.2 第一作者
7.提高镀金管座键合强度的局部蒸镍技术 微电子学与计算机1993.No.12 第一作者
8.利用微电子测试图形研究 CMOSIC的锁定效应 华东师范大学学报1993.No.3第二作者
9.半导体器件键合可靠性评估方法研究 中国电子学会RQC分会年会论文集 1992.6 (二)
10.硅栅CMOS集成电路测试图形的研究 华东师范大学学报 1992.No.3 第二作者
11.硅栅CMOSIC测试图形的研究和应用 中国电子学会RQC分会年会论文集1990.6 (二)
12.密封管壳内水汽含量的非破坏性测量方法 微电子学与计算机 1990.No.10 第二作者
13.硅栅CMOSIC测试图形中组合结构的研究和应用1988全国可靠性物理学术讨论会(一)
14.硅栅NMOS集成电路测试图形的研究 华东师范大学学报 1985.No.4
15.光的干涉和衍射演示板的介绍 物理教学 1983.No.3
16.掩模套准组合结构的应用 电子与自动化 1983.No.5
17.导电层线宽测试结构 电子与自动化 1983.No.3
18.一种新型磁敏集成角度传感器及其测量系统 传感器技术 2001.No.1
19. 一种新型两维霍尔角度传感器研究 传感技术学报 2001.No.1
20. 磁敏集成角度传感器及其测量研究 STC? 99


出版书籍
微电子测试结构 华东师范大学出版社 1984.11 加工绘制插图
力学 华东师范大学出版社 1985.8 加工绘制插图

在研项目
1、参与“智能无线遥控接收系统芯片设计”项目

已完成项目
1.集成LCD驱动电路设计 上海贝岭有限公司 6.0万 2002.03完成
2.LCD-IC设计逆向分析 上海新茂设计有限公司 2.0万 2000.05完成
3.磁敏集成角度传感器 国家计委/机械委 14.0万 2000.01鉴定
4.VLSI内建可靠性研究—输入参量控制 国家教委 8.0万 1999.12鉴定
5.表面安装塑封器件可靠性研究 上海市科委 2.0万 1997.08鉴定
6.半导体器件失效率的快速试验方法研究 上海市科委 2.0万 1995.09鉴定
7.高可靠器件超声键合可靠性研究 电子部军工司 10.0万 1994.04鉴定
入选中国‘九五’科学技术成果选2000.5出版
8.微波器件失效率快速试验方法研究 机电部军工基础局3.5万 1992.08鉴定
9.半导体器件可靠性研究 上海市科委 7.0万 1990.10鉴定
10.CMOSIC闭锁效应的研究 上海市科委 1.6万 1988.12鉴定
11.硅栅CMOSIC测试图形（TP-25） 上海市科委 3.5万 1988.05鉴定
12.双极型集成电路测试图形 上海市科委 1985鉴定
13.硅平面工艺论证微电子测试图形 上海市科委 1985鉴定
14.硅栅NMOSIC测试图形（TP-25） 上海市科委 1984鉴定
15.微电子测试结构及其应用/TP—1二方位测试仪 上海市科委 1983鉴定
16.光学实验组合元件 华东师范大学 1983鉴定
17.方型阵列数字式四探针?/? & ??cm测试仪 上海市科委 1981鉴定18.S1240工程中11种半导体器件失效分析 上海无线电七厂 1992完成
19.塑封IC开启和失效分析 上海贝岭微电子制造有限公司 1992完成
20.铝栅CMOSIC制造工艺和质量评估测试图形 上海贝岭公司 1990完成
21.测试图形版/测试探卡 上海无线电二十九厂、石家庄无线电二厂1988完成


获奖
1. 微电子测试图形及其智能测试装置
1986年上海市科学技术进步二等奖
2. 方型阵列数字式四探针欧姆cm测试仪
1981年上海市重大科技成果三等奖


社会兼职
上海市集成电路行业协会 会员单位-华东师范大学联系人 2003