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电子科技大学电子科学与工程学院导师教师师资介绍简介-张金平

本站小编 Free考研考试/2021-09-12

张金平 邮箱:jinpingzhang@uestc.edu.cn
电话:
系别:微电子与固体电子系
职称:教授
教师个人主页:


教师简介
教育背景
2004.03-2009.12 电子科技大学,微电子学与固体电子学专业,博士学位

工作履历
2015.12-2016.12 美国伊利诺伊理工大学,电气与计算机工程系 访问****
2013.08- 电子科技大学,微电子与固体电子学院 副教授
2010.12-2013.07 电子科技大学,微电子与固体电子学院 讲师
2005.02-2010.12 英特尔产品(成都)有限公司 工程师
2009.12-2010.04 Chipset Division, Intel Corp., Folsom, CA, US 工程师
科学研究
研究方向


研究内容1:Si基功率半导体器件
开展Si基功率半导体器件的新结构、模型和实验研究,并开展相关器件的产业化工程研究工作,研究的器件包括:IGBT、DMOS、整流器、BJT、恒流器等。


研究内容2:宽禁带半导体(碳化硅)功率器件
开展宽禁带SiC基功率半导体器件的新结构、模型和实验研究,研究的器件包括:MESFET、IGBT、MOS等器件。


代表性论文
1. Jinping Zhang, Zehong Li, Bo Zhang and Zhaoji Li. A novel high performance TFS SJ IGBT with a buried oxide layer. Chinese Physics B, 2014, 23 (8): 088504 (1-6)
2. Jinping Zhang, Xiaojun Xia, Zehong Li, etc. A novel high performance enhanced-planar IGBT with P-type buried layer. ICCCAS‘13, 2013:327-330
3. Jinping Zhang, Z. Li and B. Zhang, etc. High performance CSTBT with p-type buried layer. Electronics Letters, 2012, 48 (9):525-527
4. Jinping Zhang, Zehong Li and Bo Zhang, etc. A novel high voltage light punch-through carrier stored trench bipolar transistor with buried p-layer. Chin. Phys. B, 2012, 21 (6): 068504 (1-6)
5. Jinping Zhang, Bo Zhang, Zhaoji Li. Asymmetric 3D tri-gate 4H-SiC MESFETs with a recessed drain drift region. Semiconductor Science and Technology, 2009, 24 (4): 5001-5005
6. Jinping Zhang, Yi Ye, Chunhua Zhou, Xiaorong Luo, Bo Zhang, Zhaoji Li. High breakdown voltage 4H-SiC MESFETs with floating metal strips, Microelectronic Engineering 2008, 85: 89–92.
7. Jinping Zhang, Xiaorong Luo, Zhaoji Li, Bo Zhang. Improved double-recessed 4H-SiC MESFETs structure with recessed source/drain drift region. Microelectronic Engineering 2007, 84: 2888–2891.
8. Jinping Zhang, B. Zhang, Z. Li. Simulation of high-power 4H-SiC MESFETs with 3D tri-gate structure. Electronics Letters, 2007, 43 (12): 92-94.
9. Jinping Zhang, Bo Zhang, Zhaoji Li. Improved Performance of 3D tri-gate 4H-SiC MESFETs with Recessed Drift Region. ICSICT’08, 2008: 1098-1101.




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