刘志伟 邮箱：ziv_liu@hotmail.com
电话：
系别：集成电路与系统系
职称：副教授（副研究员等）
教师个人主页：http://faculty.uestc.edu.cn/liuzhiwei


教师简介
刘志伟，电子科技大学电子科学与工程学院副教授。分别于2001年和2003年获得华中科技大学电子科学与技术专业本科和硕士学位，于2010年8月获得美国中佛罗里达大学电子工程专业博士学位。主要开展芯片片上静电保护器件设计与仿真、系统级静电防护以及先进半导体器件建模等方向研究工作。在ESD防护器件方面有着15年的研究经验，曾经在美国ADI，Intersil等知名公司工作或实习，所开发的ESD保护方案在多家半导体公司的芯片上大规模生产。
获得美国专利授权2项，中国国家发明专利12项，研究成果在IEEE相关期刊上发表SCI论文35篇，发表会议论文30篇。作为主编编辑出版外文专著1本<<Outlook and Challenges of Nano Devices>> (2017，Springer出版社出版)，翻译出版ESD专业书籍2本。担任多家SCI期刊(IEEE EDL, IEEE TED, Microelectronic Reliability)的评审，2013年被授予IEEE EDL金牌审稿人。作为IEEE EDS成都分会副主席，积极组织成都地区电子器件领域的学术交流活动。多次作为大会主席或技术委员会主席主办IEEE国际会议，包括IEEE EDSSC2014、IEEE INEC2015、IEEE IPFA2017、IEEE IPFA2019、IEEE IEDS2020。
作为项目负责人承担国家自然科学基金青年基金、国家自然科学基金面上基金、国家重点实验室开放基金、中央高校基本科研业务项目、四川省基础条件平台建设项目以及与国内知名企业开展多项横向合作项目。2015年获评四川省专家，2019年担任硬核中国芯的评审专家以及担任宜特(上海)的企业合作导师。
科学研究
科研方向：
1) 先进纳米集成电路ESD保护
2) 射频及高速IC ESD保护
3) 高压工艺ESD保护
4) 集成电路系统级ESD保护
5) 先进纳米器件建模
近3年代表论文(IEEE Transactions on Electron Devices以及IEEE Electron Device Letters为器件领域Top器件)：
1) Feibo Du, Wenqiang Song, Fei Hou, Jizhi Liu, Zhiwei Liu, Juin J. Liou, Xuanlin Xiiong, Qingsa Li and Yang Liu, “Augmented DTSCR with Fast Turn-On Speed for Nanoscale ESD Protection”, IEEE Transactions on Electron Devices, Mar. 2020
2) Feibo Du, Fei Hou, Wenqiang Song, Long Chen, Yannin Nie, Yihong Qing, Yichen Xu, Jizhi Liu, Zhiwei Liu and Juin J. Liou, “An improved Silicon-Controlled Rectifier (SCR) for Low-Voltage ESD Application”, IEEE Transactions on Electron Devices, Feb. 2020
3)Wei Wang, Zhiwei Liu and Te-Kuang Chiang, “A New Effectie-Conducting-Path-Driven Subthreshold Behavior Model for Junctionless Dual-Material Omega-Gate Nano-MOSFETS”, IEEE Transactions on Nanotechnology, 2019
4) Feibo Du, Shiyu Song, Fei Hou, Wenqiang Song, Long Chen, Jizhi Liu, Zhiwei Liu and Juin J. Liou, “An Augmented Gate-Ground NMOSFET for Robust ESD Applications”, IEEE Electron Device Letters, Sept. 2019
5) Feibo Du, Fei Hou, Wenqiang Song, Ruibo Chen, Jizhi Liu, Zhiwei Liu and Juin J. Liou, “An Enhanced MLSCR Structure Suitable for ESD Protection in Advanced Epitaxial CMOS Technology”, IEEE Transactions on Electron Devices, Vol. 66, Issue 5, pp. 2062-2067, May 2019
6) Fei Hou, Jizhi Liu, Zhiwei Liu, Wen Huang, Tianxun Gong, Bin Yu and Juin J. Liou, “New Diode-Triggered Silicon-controlled Rectifier for Robust Electrostatic Discharge Protection at High Temperature”, IEEE Transactions on Electron Devices, Vol. 66, Issue 4, pp. 2044-2048, April 2019
7) Feibo Du, Zhiwei Liu, Jizhi Liu, Jun Wang and Juin J. Liou, “A Compact and Self-Isolated Dual-Directional Silicon Controlled Rectifier (SCR) for ESD Applications”, IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Vol. 19, Issue 1, pp. 169-175, Jan. 2019
8) Feibo Du, Fei Hou, Zhiwei Liu, Jizhi Liu and Juin J. Liou, “Bidirectional Silicon-Controlled Rectifier for advanced ESD protection applications”, Electronics Letters, Vol. 55, Issue 2, pp. 112-114, Jan. 2019




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