各有关单位：

　　为增强科研人员对光学与几何量计量技术发展趋势的了解，提升光机检测技术水平。经中国科学院审核批准，由中国科学院光电技术研究所举办“光机检测与计量技术”研讨会项目。现将有关事项预通知如下：

　　一、研讨会主要内容

　　1．光学计量现状及发展趋势；

　　2．双频激光干涉仪测量技术及发展趋势；

　　3．三坐标测量技术及发展趋势；

　　4．大型光机仪器设备检测技术现状及发展趋势。

　　二、参加研讨会人员范围

　　1．从事光机仪器设备技术研发的科研人员；

　　2．从事光机仪器设备检测技术研究的科研人员；

　　3．光学与几何量计量人员。

　　三、研讨会时间和地点

　　1．研讨会时间初步定为2014年9月中下旬（三天）

　　2．研讨会地点成都

　　（具体时间和地点第二轮正式通知时明确）

　　四、其他事项

　　1．研讨会不收取会议培训费；

　　2．参会人员住宿和交通费自理。

　　五、报名及联系方式

　　请各单位尽快确定参加人员，原则上每个单位参加人员1-2名，组织方将按照报名先后顺序确定最终参加人员名单（共40个名额）。请于2014年8月28日前将加盖单位公章的报名回执（见附表）传真至中国科学院光电技术研究所人事教育处，同时发电子邮件。

　　

　　联系人：陈仕长 阮李力

　　电话：13981879237，028-85101348（电话传真）

　　E-mail：chenshichang@ioe.ac.cn

　　

　　

　　附件：会议回执表