孙志

男，博士，讲师；1981年6月生于黑龙江省佳木斯市。

联系方式：

E-mail：sunzhimems@163.com，电话(办)：**.
教育经历（按时间倒排序）：

2007/9 - 2013/6，哈尔滨理工大学，高电压与绝缘技术，博士；

2003/9 - 2006/6，贵州大学，微电子学与固体电子学，硕士；

1999/9 - 2003/7，燕山大学，电气工程及其自动化，学士。
工作经历（科研与学术工作经历，按时间倒排序）：

2014/12 - 聘为硕士研究生指导教师；

2009/09 - ，哈尔滨理工大学，电气与电子工程学院，讲师；

2006/07 - 2009/08，哈尔滨理工大学，电气与电子工程学院，助教。
主持或参加科研项目：

1、黑龙江省自然科学基金青年项目，QC2013C042、基于电场力显微镜的纳米电介质电特性研究、2014/01-2016/12、在研、主持。

2、国家自然科学基金青年项目，**、聚乙烯基纳米沸石复合电介质的制备与介电性能研究、2014/01-2016/12、在研、参加(排名:2/5)。

3、国家自然科学基金面上项目，**、激光激发的光激放电方法研究及其对聚合物电介质中深陷阱的表征、2010/01-2012/12、已结题、参加。
2010年后代表性研究论文列表:

1. Sun Zhi，Wang Xuan，Han Bai，Song Wei，Zhang Dong，Guo Xiang-Yu，Lei Qing-Quan，Dielectric property of binary phase composite and its interface investigated by electric force microscope，Acta Physica Sinica，2013，62(3)。SCI 期刊论文

2. 孙志，王暄，韩柏，雷清泉，聚酰亚胺薄膜表面电荷的开尔文力显微镜研究，中国电机工程学报，2014, (12):1957-1964。EI 期刊论文

3. 孙志，韩柏，张冬，宋伟，何丽娟，王暄，雷清泉，耐电晕聚酰亚胺薄膜表面电荷特性，纳米技术与精密工程，2010, (06):532-536。EI 期刊论文

4. 孙志，韩柏，李振凯，王暄，雷清泉，电场力显微镜不同探针对表面电荷注入的影响，电子显微学报，2012, (03):217-220。 CSCD核心期刊

5. Sun, Zhi，Wang, Xuan，Song, Wei，Lei, Qingquan，A research on the surface charge with different coating tip by Electrostatic Force Microscope，2013 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena, CEIDP 2013，295-297，Shenzhen, China，2013.10.20-2013.10.23。EI 会议论文

6. 王春香，孙志(通讯作者)，陈丽梅，陈佰树，基于电场力显微镜的聚酰亚胺表面电荷，材料科学与工程学报，2014, (03):452-455。 CSCD核心期刊