一、个人基本情况姓名：周锡龙
性别：男
学位：博士
职称：教授
所在系：工程结构与力学系
电子邮件：xlzhou@whut.edu.cn
联系电话：
二、教育背景与工作经历
教育背景：
2005~2009 武汉理工大学理学院工程力学学士
2009-2014 北京大学工学院固体力学博士
工作经历：
2014-2015 武汉理工大学理学院讲师
2015-至今武汉理工大学理学院****
2017/12-2018/12华盛顿大学机械工程系访问****
三、研究方向
?声学扫描探针显微术实验方法和应用
?原子力显微镜多频成像技术
?铁电材料测试与表征
?先进材料微结构演化模拟
四、教学研究
讲授本科生板壳力学、塑性力学等课程；国际教育学院留学生理论力学、材料力学课程；研究生专业英语、力学测试技术课程。
五、科学研究
1.国家自然科学基金青年基金，**，基于扫描探针显微术的铁电材料纳米尺度多场耦合效应研究，2016/01-2018/12，25.1万元，主持；
2.科技部973项目子课题，2011CB606105，高性能芳纶纤维及其复合材料的表/界面结构设计、力学性能和失效机理，2011/01-2015/08，80万/435万元，参与；
3.国家自然科学基金面上项目，**、晶体对称性相关的PZT铁电陶瓷变形与失效机理研究、2009/01-2011/12、39万元，参与。
六、代表性论文及著作
《纳米力学表征新方法—扫描探针声学显微术》,李法新,周锡龙,付际,北京:科学出版社, 2017.
代表性论文：
[1]周锡龙,李法新,双模态振幅调制原子力显微术相互作用区转变研究.力学学报, 2018, 50(5): 1104-1114.
[2]X.L.Zhou, R.S.Zhuo, P.F.Wen, F.X.Li, Amplitude modulation atomic force microscopy based on higher flexural modes. AIP Advances, 2017, 7: 125319.
[3]X.L.Zhou, P.F.Wen, F.X.Li, Vibration analysis of atomic force microscope cantilevers in contact resonance force microscopy using Timoshenko beam model. Acta Mechanica Solida Sinica, 2017, 30(5): 520-530.
[4]周锡龙,李法新,付际,扫描探针声学显微技术研究进展.固体力学学报, 2016, 37(2), 107-134.
[5]X.L. Zhou, H.C. Miao, F.X. Li, Nanoscale structural and functional mapping of nacre by scanning probe microscopy techniques. Nanoscale, 2013, 5: 11885-11893.
[6]X.L. Zhou, J. Fu, H.C. Miao, F.X. Li, Contact resonance force microscopy with higher-eigenmode for nanoscale viscoelasticity measurements. Journal of Applied Physics, 2014, 116: 034310.
[7]X.L. Zhou, J. Fu, Y.W. Li, F.X. Li, Nanomechanical mapping of glass fiber reinforced polymer composites using atomic force acoustic microscopy. Journal of Applied Polymer Science, 2014, 131: 39800.
[8]X.L. Zhou, F.X. Li, Simulations of nonlinear deformations in Ni-Ti shape memory alloys under tension/compression using an energy minimization model. Computational Materials Science,2014,81:530-537.
[9]X.L. Zhou, J. Fu, F.X. Li, Contact resonance force microscopy for nanomechanical characterization: accuracy and sensitivity. Journal of Applied Physics,2013, 114: 064301.
[10]X.L. Zhou, F.X. Li, H.R. Zeng, Mapping nanoscale domain patterns in ferroelectric ceramics by atomic force acoustic microscopy and piezoresponse force microscopy. Journal of Applied Physics, 2013, 113: 187214.