基本内容：

1、金属材料、无机非金属材料方向

晶体学基础的基本概念和晶体化学基本原理，二者在晶体结构确定和物相分析中的应用。典型金属晶体结构和常见无机化合物晶体结构。晶体结构点缺陷理论与固溶体的晶体结构，固溶体结构理论的应用。金属间化合物的晶体结构及其对合金材料性能影响，金属间化合物特性与用途。硅酸盐晶体结构与鲍林规则，硅酸盐材料原料性能。玻璃体结构，玻璃通性，玻璃形成的动力学条件和结晶化学条件。固体的电子能带结构理论及其在绝缘体材料，半导体材料和导体材料中应用。

晶体缺陷的类型与特征：晶体缺陷理论，晶体缺陷间的相互作用以及对材料性能的影响作用和规律。材料热力学：合金相热力学、相平衡热力学、相图热力学、晶体缺陷热力学、相变热力学。相图：二元相图、三元相图。固体中的扩散：扩散方程、扩散的微观理论和机制、扩散热力学。

2、高分子材料方向

（1）高分子与高分子材料的基本概念：高分子的定义、命名和分类，高分子与小分子的区别，高分子材料的定义、分类和特点。

（2）高分子的链结构与凝聚态结构：高分子链的近程结构（化学组成、键接方式、空间立构、支化与交联、序列结构），高分子链的远程结构（内旋转、链的柔性、链的构象），构型和构象的区别，高分子的凝聚态结构（非晶态结构、晶态结构、取向结构、高分子液晶、高分子合金）。

（3）高聚物的分子运动：高聚物分子运动的特点，玻璃化转变温度的实质，影响玻玻璃化转变温度的结构因素及其调节途径，高聚物分子运动的研究方法。

（4）高聚物的性能：高聚物的高弹性和粘弹性，高聚物的应力应变曲线，高聚物的流变性能，高聚物的介电性能、导电性能和热性能，高分子溶液的形成及特点，高聚物的分子量及分子量分布。

参考书目 (包括作者、书目、出版社、出版时间、版次)：

1、金属材料、无机非金属材料方向

(1) 潘金生，仝健民，田民波.材料科学基础（修订版）.清华大学出版社，2011年.

(2) 冯端，师昌绪，刘治国.材料科学导论，化学工业出版社，2002年.

2、高分子材料方向

何平笙.新编高聚物的结构与性能.科学出版社，2009年.

基本内容:

1、金属材料、无机非金属材料方向

X射线衍射分析

物相衍射分析与点阵参数的精确测定：定性、定量分析原理、方法与步骤，点阵参数的精确测定；X射线衍射谱的线形分析； Rietveld精修与从头晶体结构测定；Rietveld方法的相定量分析（多相全谱拟合）；宏观应力的X射线衍射测定与分析；织构与极图的测定；薄膜和一维材料的X射线衍射分析；小角X射线散射(SAXS)和小角衍射；扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)谱分析。

TEM电子衍射

倒易点阵，倒易矢量及其基本性质；正点阵与倒点阵的指数互换；晶带定律与0层倒易截面；Bragg定律及其几何图解；偏离参量；倒易点阵与电子衍射图的关系；电子衍射的基本公式；单晶、多晶衍射花样形成原理；点阵结构因数的计算；系统消光；倒易点阵的类型；单晶与多晶电子衍射图的分析及标定；晶体的复杂衍射花样分析；两相取向关系的测定与分析。

TEM成像

TEM中成像的像衬度类型与原理（质厚衬度、衍射衬度、Z衬度及其技术、相位衬度）；晶体薄膜的衍射衬度强度理论；缺陷（位错、层错、第二相等）衬度的定性与定量分析；材料的界面及其分析方法：两相界面衬度，包括应变衬度、错配位错、位移条纹、波纹图；弱束暗场成像技术； 高分辨电子显微学相位衬度像的成像原理、成像过程、显微图像的类型和应用。

SEM与EPMA分析

电子束与样品相互作用产生的主要物理信号、特征及应用；成像原理、二次电子与背散射电子像衬度与分辨率；电子背散射衍射与应用；X射线显微成分分析技术与方法。

2、高分子材料方向

紫外光谱

紫外吸收光谱的基本原理、影响紫外吸收光谱的主要因素、光吸收定律、紫外吸收光谱在定性及定量中的应用、各类有机化合物的紫外特征吸收及紫外光谱的解析、应用。

红外光谱

红外吸收光谱产生的条件、影响峰位的主要因素、红外吸收光谱的重要区域、各类有机化合物的红外特征吸收及红外光谱的解析、应用。

核磁共振光谱

核的自旋和核磁共振现象、化学位移的产生和影响化学位移的因素、饱和和驰豫、自旋偶合和分裂。波谱中积分曲线与氢数目、偶合与偶合常数、偶合系统的核磁特征谱图以及一般有机化合物的氢谱解析。

质谱

质谱的基本方程、质谱的表示法、质谱中的离子类型、质量分离器、离子的断裂机理、离子源的种类、质谱中分子离子峰、碎片离子峰、常见裂解方式、各类有机化合物的质谱特征及解析。

有机化合物的四谱综合解析

考试题型（总分:100 ）：简答题、论述题、计算题

参考书目 (包括作者、书目、出版社、出版时间、版次)：

1、金属材料、无机非金属材料方向

(1)．黄孝瑛. 材料微观结构的电子显微学分析. 冶金工业出版社，2008，第1版

(2). 马礼敦. 近代X射线多晶体衍射: 实验技术与数据分析. 北京：化学工业出版社，2004，第1版

(3). 晋勇, 孙小松, 薛屺. X射线衍射分析技术. 北京： 国防工业出版社，2008，第1版

(4)．姜传海, 杨传铮. 材料射线衍射和散射分析. 高等教育出版社, 2010，第1版

(5)．J. Goldstein, D. E. Newbury, D. C. Joy, P. Echlin, C. E. Lyman, E. Lifshin. Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis, Third edition. New York: Springer Science + Business Media Inc, 2003

(6)．D. B. Williams and C. B. Carter. Transmission Electron Microscopy – A Textbook for Materials Science. Springer Science, Business Media, LLC, 2009

2、高分子材料方向

(1). 孟令芝，龚淑玲，何永炳. 有机波谱分析. 武汉大学出版社, 2009年, 第3版.

(2). 林贤福. 现代波谱分析方法. 华东理工大学出版社, 2009年, 第1版.

(3). 邓芹英, 刘岚, 邓慧敏. 波谱分析教程. 科学出版社, 2010年, 第2版.

(4). 张华，彭勤纪，李亚明等. 现代有机波谱分析, 化学工业出版社, 2005, 第1版.