张玺


博士、副教授

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联系电话：
电子邮箱：xi.zhang@coe.pku.edu.cn
个人主页：http://www2.coe.pku.edu.cn/subpaget.asp?id=24

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教育经历：

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2006年，上海交通大学，机械工程及自动化，工程学士学位
2006年，上海交通大学，工商管理，管理学第二学士学位
2009年12月，美国南佛罗里达大学，工业管理与系统工程，博士学位

研究领域：

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主要从事对复杂系统的过程建模和质量监控、生产系统中的数据挖掘、诊断以及其工业中应用的研究工作。

背景资料：

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2006年，上海交通大学，机械工程及自动化，工程学士学位
2006年，上海交通大学，工商管理，管理学第二学士学位
2009年12月，美国南佛罗里达大学，工业管理与系统工程，博士学位
获得荣誉：

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美国国家科学基金NSF CMMI Graduate Student Travel Grant, 2009
上海交通大学飞利浦亚明奖学金, 2005
上海交通大学优秀学生, 2005
上海交通大学优秀学生奖学金, 2003-2005
研究领域： 主要从事对复杂系统的过程建模和质量监控、生产系统中的数据挖掘、诊断和可靠性分析，以及其工业中应用的研究工作。研究成果在先进制造系统、公共医疗系统等领域得到良好应用，并在国际著名学术刊物IEEE Transaction发表多篇论文。
学术期刊论文：

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·Zhang, X., Huang, Q., 2010, “Analysis of Interaction Structure among Multiple Functional Process Variables for Process Monitoring in Semiconductor Manufacturing”,IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing,vol. 23 (2), pp.263-272.
·Zhang, X., Wang, H., Huang, Q., Kumar, A., and Zhai, J., 2009, “Statistical and Experimental Analysis of Correlated Time-varying Process Variables for Condition Diagnosis in Chemical-Mechanical Planarization”,IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 22 (3), pp.512-521.
· Wang, H.,Zhang, X., Kumar, A., Huang, Q., 2009, “Nonlinear Dynamics Modeling of Correlated Functional Process Variables for Condition Monitoring in Chemical-Mechanical Planarization”,IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol.22, pp. 188-195.
学术兼职：

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Reviewer:
International Journal of Modeling, Identification and Control
Journal of Manufacturing Systems