冯建华 职称：副教授
研究所：微纳电子学研究院
研究领域：IC设计和测试、硬件安全
办公电话：86-
电子邮件：fengjh@pku.edu.cn
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科研/教育经历
冯建华，男，博士，北京大学副教授。分别于1986年7月、1995年3月和2000年4月在哈尔滨工业大学、西安电子科技大学和西安微电子技术研究所获学士、硕士和博士学位。1986年8月至2000年4月在西安微电子技术研究所工作，2000年5月至2002年4月在清华大学微电子学研究所做博士后工作，2002年5月至今在北京大学微纳电子学研究院工作。主要研究领域包括IC设计和测试、芯片安全、可靠性加固与预警等。

研究成果概况
主要科研项目包括国家自然科学基金4项、国家预研项目3项（基于嵌入式内核SOC 系统芯片测试方法研究、嵌入式模拟和混合信号电路DFT 和BIST 研究、芯片硬件木马安全检测方法研究、硬件木马检测方法和可信设计技术研究、现场可编程门阵列器件可测性设计和测试技术等）。讲授“VLSI测试和可测试性设计”和“模拟、混合信号和射频电路测试”课程。曾获省部级一、二等奖2项，出版著（译）作3部，授权专利8项，发表论文40多篇，主持开发了40多种集成电路验证和测试程序。电子学会和计算机学会高级会员，容错专委常委。