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简并态锗在大注入下的自发辐射谱模拟

本站小编 Free考研考试/2021-12-29

摘要:基于费米狄拉克模型模拟了应变、温度以及掺杂对简并态锗的直接带自发辐射谱的影响.随着温度升高,更多的电子被激发到导带中,使得锗自发辐射谱的峰值强度和积分强度随温度的升高而增大.对自发辐射谱峰值强度的m因子进行计算, 结果表明张应变可以显著提高锗自发辐射的温度稳定性.在相同应变水平下,由-hh跃迁引起的自发辐射谱峰值强度大于-1h跃迁引起的自发辐射谱峰值强度,但二者的积分强度几乎相等.此外,计算结果还证明了n型掺杂能显著提高锗的自发辐射强度.以上结果对于研究简并态半导体的自发辐射性质有重要的参考意义.
关键词: 简并态锗/
自发辐射/
应变/
掺杂

English Abstract


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相关话题/辐射 计算 电子 半导体 强度

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