纳米物理与器件实验室N04组高鸿钧研究员的2011届博士生潘毅在物理所学习和在德国Fritz-Haber马普研究所学术交流期间,对这个课题进行了长期系统研究。潘毅及其合作者通过分时段严格控制材料制备末期的氧分压和退火温度,解决了两种氧缺陷的分离以及对氧缺陷浓度精确调控这个难题。藉此方法,他们选择性地制备了只含特定浓度表面氧缺陷、或者特定浓度亚表面氧缺陷的以Ru(0001)为衬底的CeO2(111)超薄膜样品。在此基础上,他们进一步研究了这两种氧缺陷对金原子吸附的截然不同的作用。
图1. 含表面氧缺陷的CeO2(111)薄膜上的Au原子经50 K至700 K的一系列退火后,在表面形成大的团簇,而没有进入氧缺陷吸附位。 |
该成果首次区分了两种表面氧缺陷的不同作用,对氧化铈二维原子晶体材料的应用具有重要指导意义。例如:在氧化铈载体上制备高分散金属团簇催化剂时,要在载体上制造亚表面氧缺陷,这样就可以形成高密度的小尺寸团簇,而表面氧缺陷则对提高金属团簇的分散性没有帮助。潘毅(同等贡献者)等将这一结果发表于近期的Phys. Rew. Lett.上。 【DOI:http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.116.236101】
图2. 利用DFT 计算得出的Au原子在无缺陷表面自由扩散和有缺陷的表面延两种路径向缺陷位扩散的扩散势垒。其中红色和蓝色分别是绝热近似和非绝热近似下的结果。 |
P. G. Lustemberg#, Y. Pan#, D.C. Grinter, B.-J. Shaw, C.L. Pang, G. Thornton, R. Pérez, M. V. Ganduglia-Pirovano*, N. Nilius*. Diffusion barriers block defect occupation on reduced CeO2(111) Phys. Rev. Lett. 116, 236101 (2016). ( #contributed equally )
http://journals.aps.org/prl/abstract/10.1103/PhysRevLett.116.236101
PhysRevLett.116.236101.pdf