科研人员
姓名李华伟
性别女
职称研究员
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个人介绍
简历:
工学博士，研究员，博士生导师。1996年在湘潭大学计算机科学系获学士学位。1999年和2001年在中国科学院计算技术研究所分别获硕士学位和博士学位。2001年获中国科学院院长奖学金特别奖和“微软学者”称号。现任中国科学院计算机系统结构重点实验室VLSI测试与设计验证组组长，中国计算机学会容错计算专业委员会秘书长。2009年8月-2010年8月，在美国加州大学圣巴巴拉分校担任访问学者。
主要从事集成电路验证与测试方法研究，承担了国家自然科学基金、国家973和863等多个研究项目、龙芯CPU设计验证与测试等工程项目。在IEEETrans.onVLSI，J.Electron.Test.，《计算机学报》等国内外刊物和IEEEITC,VTS,DATE等著名国际学术会议上发表论文100余篇（其中SCI收录15篇，EI收录70篇以上），授权发明专利10项；软件（著作权）登记10件。
作为“龙芯CPU”研究集体中芯片测试方面主要负责人之一，荣获2003年度中科院杰出科技成就奖（荣誉）。2008年荣获中国科学院卢嘉锡青年人才奖。合作完成的基础研究成果“集成电路逻辑测试与验证基础技术”荣获2007年度北京市科学技术奖（基础研究类）三等奖。合作完成的技术发明成果“数字电路实速检测和故障诊断技术及其应用”荣获2008年度北京市科学技术奖（技术发明类）三等奖。
在国内外学术交流方面，担任2007年IEEE第16届亚洲测试会议（ATS07）程序委员会合作主席、2003年IEEE第4届寄存器传输级及高层测试研讨会（WRTLT03）程序委员会主席；担任2006年第四届中国测试会议程序委员会主席、2004年第三届中国测试会议程序委员会合作主席。多次任IEEE国际会议SessionChair、IEEE国际会议ProgramCommittee成员。是本研究领域顶级国际会议DAC、ITC、VTS和著名学术刊物IEEETrans.CAD,IEEETrans.VLSI,ACMTrans.DAES,JETTA的审稿人。


研究方向:
VLSI测试、验证、可靠设计
社会任职:
IEEESeniorMember，中国计算机学会（CCF）高级会员。《计算机辅助设计与图形学学报》编委。2008年4月，担任中国计算机学会（CCF）第六届容错专业委员会秘书长。担任2007年IEEE亚洲测试会议（ATS07）程序委员会合作主席、2003年IEEE4thWRTLT程序委员会主席；2006年第四届中国测试会议程序委员会主席、2004年第三届中国测试会议程序委员会合作主席。多次任IEEE国际会议SessionChair、IEEE国际会议ProgramCommittee成员。

获奖及荣誉:
1.2008年度中国科学院卢嘉锡青年人才奖
2.2008年度北京市科学技术奖（发明类）三等奖。
3.2007年度北京市科学技术奖（基础研究类）三等奖。
4.2004年全国优秀博士学位论文提名奖。
5.2003年度中国科学院杰出科技成就奖（龙芯CPU研究集体）。
6.2001年度中国科学院“院长奖学金”特别奖。
7.2001年“微软学者”称号。


代表论著:
时延测试，测试生成，串扰故障测试:
[1]HuaweiLi,DawenXu,YinheHan,K.-T.Cheng,XiaoweiLi,“nGFSIM:AGPU-Based1-to-n-DetectionFaultSimulatoranditsApplications,”Proc.IEEE41stInternationalTestConference(ITC’10),Paper12.1,Austin,USA,Oct.2010.
[2]HuaweiLi,PeifuShen,andXiaoweiLi,“RobustTestGenerationforCrosstalk-InducedPathDelayFaults,”24thIEEEVLSITestSymposium(VTS’06),Berkeley,CA,USA,May2006.
[3]HuaweiLi,andXiaoweiLi,“SelectionofCrosstalk-inducedFaultsinEnhancedDelayTest,”JournalofElectronicTesting:TheoryandApplications,Vol.21,No.2,2005,pp.181-195.
[4]HuaweiLi,YueZhang,andXiaoweiLi,“DelayTestPatternGenerationConsideringCrosstalk-inducedEffects,”IEEE12thAsianTestSymposium(ATS’03),Xi’an,China,Nov.2003,pp.178-183.
[5]HuaweiLi,ZhongchengLi,andYinghuaMin,“ReductionofNumberofPathstobetestedinDelayTesting,”JournalofElectronicTesting:TheoryandApplications,Vol.16,No.5,Oct.2000,pp.477-485.
[6]HuaweiLi,ZhongchengLi,andYinghuaMin,"DelayTestingwithDoubleObservations,"IEEE7thAsianTestSymposium(ATS’98),Singapore,Dec.1998,pp.96-100.
[7]YingZhang,HuaweiLi,XiaoweiLi,YuHu,“CodewordSelectionforCrosstalkAvoidanceandErrorCorrectiononInterconnects,”IEEE26thVLSITestSymposium(VTS’08),SanDiego,CA,USA,April2008,pp.377-382.
[8]MinjinZhang,HuaweiLi,XiaoweiLi,“MultipleCouplingEffectsOrientedPathDelayTestGeneration,”IEEE26thVLSITestSymposium(VTS’08),SanDiego,CA,USA,April2008,pp.383-388.
[9]MinjinZhang,HuaweiLi,XiaoweiLi,“StaticCrosstalkNoiseAnalysiswithTransitionMap,”4thIEEEInternationalSymposiumonElectronicDesign,Test&Applications(Delta’08),Hongkong,Jan.2008,pp.462-465.
[10]XiangFu,HuaweiLi,YuHu,XiaoweiLi,“RobustTestGenerationforPowerSupplyNoiseinducedPathDelayFaults”,Proc.of13thAsiaandSouthPacificDesignAutomationConference(ASP-DAC’08),Seoul,Korea,Jan.2008,pp.659-662.
[11]HuiLiu,HuaweiLi,YuHu,XiaoweiLi,“AScan-BasedDelayTestMethodforReductionofOvertesting,”4thIEEEInternationalSymposiumonElectronicDesign,Test&Applications(Delta’08),Hongkong,Jan.2008,521-526
[12]PeifuShen,HuaweiLi,YongjunXu,andXiaoweiLi,“Non-robustTestGenerationforCrosstalk-InducedDelayFaults,”Proc.Of14thIEEEAsianTestSymposium(ATS’05),Calcutta,India,2005,pp.120-123.
[13]XiangFu,HuaweiLi,XiaoweiLi,“TestableCriticalPathSelectionConsideringProcessVariation,”IEICETransactionsonInformationandSystems,Vol.E93-D,No.1,2010,pp.59-67.
[14]YingZhang,HuaweiLi,XiaoweiLi,“SelectedCrosstalkAvoidanceCodeforReliableNetwork-on-Chip,”JournalofComputerScienceandTechnology,Vol.24,No.6,2009,pp.1074-1085.
[15]SongweiPei,HuaweiLi,XiaoweiLi“Flip-flopSelectionforTransitionTestPatternReductionUsingPartialEnhancedScan,”Proc.IEEE15thPacificRimInternationalSymposiumonDependableComputing(PRDC’09),2009,pp.75-80.
[16]ZijianHe,TaoLv,HuaweiLi,XiaoweiLi,“FastPathSelectionforTestingofSmallDelayDefectsConsideringPathCorrelations”,Proc.IEEE28thVLSITestSymposium(VTS’10),SanDiego,California,USA,April2010,pp.3-8.
[17]SongweiPei,HuaweiLi,XiaoweiLi,“AnOn-ChipClockGenerationSchemeforFasterthan-at-SpeedDelayTesting”,Proc.ofDATE2010,Germany,pp.1353-1356.
[18]HuaweiLi,YinghuaMin,andZhongchengLi,“ClusteringofBehavioralPhasesinFSMsanditsApplicationstoVLSItest,”ScienceInChina,SerialF,Vol.45,No.6,2002,pp.462-478.
[19]HuaweiLi,YinghuaMin,andZhongchengLi,“AnRT-levelATPGBasedonClusteringofCircuitStates,”IEEE10thAsianTestSymposium,Japan,Nov.2001,pp.213-218.
[20]HuaweiLi,YinghuaMin,andZhongchengLi,“RefinementofFinite-StateMachines,”7thInternationalConf.onComputer-AidedDesignandComputerGraphics,2001.
[21]ZhigangYin,YinghuaMin,XiaoweiLi,andHuaweiLi,“ANovelRT-LevelBehavioralDescriptionBasedATPGMethod,”JournalofComputerScienceandTechnology,Vol.18,No.3,2003,pp.308-317.测试压缩:
[22]YinheHan,YuHu,XiaoweiLi,HuaweiLi,AnshumanChandra,“EmbeddedTestDecompressortoReducetheRequiredChannelsandVectorMemoryofTesterforComplexProcessorCircuit”,IEEETransactionsonVLSISystem,May2007,Vol.15,No.5,pp.531-540.
[23]YinheHan,XiaoweiLi,HuaweiLi,AnshumanChandra,“EmbeddedTestResourceforSoCtoReduceRequiredTesterChannelsBasedonAdvancedConvolutionalCodes,”IEEETransactionsonInstrumentationandMeasurement,Vol.55,No.2,April,2006,pp.389-399.
[24]YinheHan,HuaweiLi,XiaoweiLi,AnshumanChandra,“ResponseCompactionforsystem-on-a-chipBasedonAdvancedConvolutionalCodes,”ScienceInChina,SerialF,Vol.49,No.2,2006,pp.262-272.
[25]YinheHan,YuHu,XiaoweiLi,HuaweiLi,AnshumanChandraandXiaoqingWen,"WrapperScanChainsDesignforRapidandLowPowerTestingofEmbeddedcores",IEICETransactionsonInformationandSystems,Vol.E88-D,No.9,2005,pp.2126-2135.其他:
[26]HuaweiLi,YinghuaMin,andZhongchengLi,“EvaluationofDispersityRoutingStrategiesinAnonymousCommunication,”The2004JointConferenceofthe10thAsia-PacificConferenceonCommunicationsandthe5thInternationalSymposiumonMulti-DimensionalMobileCommunications,Beijing,China,2004,pp.534-538.
[27]TaoLv,HuaweiLi,XiaoweiLi,"Automaticselectionofinternalobservationsignalsfordesignverification,"Proc.IEEE27thVLSITestSymposium(VTS’09),SantaCruz,USA,May,2009,pp.203-208.
[28]DaWang,XiaoxinFan,XiangFu,HuiLiu,KeWen,HuaweiLi,YuHu,XiaoweiLi,“TheDesign-for-TestabilityFeaturesofAGeneral-PurposeMicroprocessor,”IEEE38thInternationalTestConference2007(ITC’07),SantaClara,California,USA,Paper9.3,Oct.2007.
[29]ShuguangGong,HuaweiLi,andXiaoweiLi,“AnInnovativeFreeMemoryDesignforNetworkProcessorsinHomeNetworkGateway,”IEEETransactionsonConsumerElectronics,Vol.51,No.4,Nov.2005,pp.1182-1187.
[30]TaoLv,TongXu,YangZhao,HuaweiLi,XiaoweiLi,“BugAnalysisandCorrespondingErrorModelsinRealDesigns,”Proc.ofIEEEHLDVT2007,USA,Nov.2007.
[31]FeiWang,YuHu,HuaweiLi,XiaoweiLi,YuHuang,JingYe,“DeterministicDiagnosticPatternGenerationforCompoundDefects,”Proc.IEEEInternationalTestConference2008(ITC’08),SantaClara,California,USA,Paper14.1,Oct.2008.
[32]LeiZhang,YinheHan,QiangXu,XiaoweiLi,HuaweiLi,"OnTopologyReconfigurationforDefect-TolerantNoC-BasedHomogeneousManycoreSystems",IEEETransactionsonVLSISystems,Vol.17,Sept.2009,pp.1173-1186.



承担科研项目情况:
1.国家973课题：高性能处理芯片的设计验证与测试。
2.国家自然科学基金面上项目：避免过度测试的时延测试方法。
3.国家自然科学基金面上项目：面向串扰的时延测试。
4.国家863项目：可信计算平台软硬件系统安全测试评估模型、测试方法以及测试自动化技术。

学科类别:
计算机系统结构

所属部门:
系统结构重点实验室
专家类别:
正高

杰青入选时间:

百人入选时间:



其他备注:
博导计算机系统结构
其他备注2:

其他备注3: