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低成本VLSI时延测试策略的探讨

文献类型	期刊
作者	代建玮[1];夏宇闻[2];杨振[3]
机构	[1]北京航空航天大学电子信息工程学院,北京航空航天大学电子信息工程学院,湖南大学应用物理系 [2]北京航空航天大学电子信息工程学院,北京航空航天大学电子信息工程学院,湖南大学应用物理系 [3]北京航空航天大学电子信息工程学院,北京航空航天大学电子信息工程学院,湖南大学应用物理系 ↓
来源信息	年:2004期:9页码范围:57-60
期刊信息	中国集成电路ISSN:1681-5289
关键词	测试策略;测试向量;测试覆盖率;故障测试;时钟树;故障模型;扫描链;capture;enable;数字电路;
摘要	本文针对VLSI的时延测试进行了研究和讨论.介绍了几种实现时延测试的方法,并提出了一种低成本实现时延测试的策略.在实际应用中取得了良好效果.
所属部门	电子信息工程学院
链接地址	http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_zgjcdl200409014.aspx
DOI	10.3969/j.issn.1681-5289.2004.09.014

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dc:title:低成本VLSI时延测试策略的探讨
dc:creator:代建玮;夏宇闻;杨振
dc:date: publishDate:2004-09-15
dc:type:期刊
dc:format: Media：中国集成电路
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：中国集成电路.2004,57-60.
dc:identifier:DOI：10.3969/j.issn.1681-5289.2004.09.014
dc: identifier:ISBN:1681-5289