软件关联缺陷检测方法
| 文献类型 | 专利 |
| 发明人 | 蔡开元[1];景涛[2];白成刚[3];胡德斌[4] |
| 机构 | 北京航空航天大学 ↓ |
| 申请人 | 北京航空航天大学 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 年度 | 2004 |
| 专利申请日期 | 2004-09-09 |
| 专利公开日期 | 2006-03-15 |
| 专利公开号 | CN1746862 |
| 专利申请号 | CN200410009531.3 |
| 国家或地区 | 北京 |
| 人气指数 | 2 |
| 浏览次数 | 2 |
| 摘要 | 软件关联缺陷检测方法，其特征在于按下列步骤进行测试：(1)根据需要初始化缺陷描述数组defects，若要测试全部缺陷，令defects[i][0]＝1(表示缺陷是打开的)，defects[i][1]＝0(表示缺陷未知)，i＝1，2，……，n，n为软件中的缺陷数；(2)以概率0.01重新打开一个已剔除的缺陷j，即if(defects[j][1]＝1)then defects[j][0]＝1；(3)从测试用例库中随机选一个测试用例进行测试；(4)如果发现缺陷，假定该缺陷编号为j，则令defects[j][0]＝0(剔除缺陷)，defects[j][1]＝1(标记缺陷为已知)；(5)如果达到测试停止条件，比如找到所有缺陷或测试时间已满则停止，转第(6)步；否则转第(2)步；(6)停止。采用本发明的测试方法，不仅可以有效检测和剔除关联缺陷，而且提高了缺陷的检测率。 |
影响因子：
dc:title:软件关联缺陷检测方法
dc:creator:蔡开元;景涛;白成刚,等
dc:date: publishDate:2004-09-09
dc:type:专利
dc:format: Media：
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：2004.
dc:identifier:DOI：
dc: identifier:ISBN:
