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利用二次采样技术进行扫频测量非线性抑制

北京航空航天大学 辅仁网/2017-07-06

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利用二次采样技术进行扫频测量非线性抑制
外文标题Suppression of Sweeping Nonlinearity Based on Resampling Technique
文献类型期刊
作者景永奇[1];何国瑜[2];许鼎[3]
机构
来源信息年:2003卷:19期:4页码范围:92-95
期刊信息微波学报ISSN:1005-6122
关键词扫频非线性;溅散板型抛物面天线;二次采样技术
摘要基于溅散板型抛物面天线产生的已知参考信号,介绍了一种通过对FM/CW近程雷达回波中频信号进行二次采样抑制VCO扫频非线性的技术.给出了天线设计特点以及这种方法的基本原理和注意事项.此外,在暗室内进行的模拟实验表明,这种方法设计合理,可行有效,大大抑制了扫频非线性引起的一维成像频谱展宽和偏移现象.
收录情况PKUISTIC
所属部门电子信息工程学院
链接地址http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_wbxb200304022.aspx
DOI10.3969/j.issn.1005-6122.2003.04.022
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科学与技术系许鼎

dc:title:利用二次采样技术进行扫频测量非线性抑制
dc:creator:景永奇;何国瑜;许鼎
dc:date: publishDate:2003-12-15
dc:type:期刊
dc:format: Media:微波学报
dc:identifier: LnterrelatedLiterature:微波学报.2003,19(4),92-95.
dc:identifier:DOI:10.3969/j.issn.1005-6122.2003.04.022
dc: identifier:ISBN:1005-6122
相关话题/电子信息工程学院 北京航空航天大学 北京 技术 微波