面向电路板级的边界扫描技术的应用
外文标题 | Application of Boundary Scan Technology in PCB Level |
文献类型 | 期刊 |
作者 | 梁佐庆[1];孟晓风[2] |
机构 | [1]北京航空航天大学自动化学院测控系,北京航空航天大学自动化学院测控系 100083,100083 [2]北京航空航天大学自动化学院测控系,北京航空航天大学自动化学院测控系 100083,100083 ↓ |
来源信息 | 年:2003卷:22期:z1页码范围:40-42 |
期刊信息 | 国外电子测量技术ISSN:1002-8978 |
关键词 | 边界扫描;可测性;板级 |
摘要 | 本文介绍了传统电路板级测试的局限性,分析了边界扫描在电路级的应用策略和带来的好处以及板级电路测试未来的发展趋势. |
所属部门 | 自动化科学与电气工程学院 |
链接地址 | http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_gwdzcljs2003z1016.aspx |
DOI | 10.3969/j.issn.1002-8978.2003.z1.016 |
全文
影响因子:
dc:title:面向电路板级的边界扫描技术的应用
dc:creator:梁佐庆;孟晓风
dc:date: publishDate:2003-12-30
dc:type:期刊
dc:format: Media:国外电子测量技术
dc:identifier: LnterrelatedLiterature:国外电子测量技术.2003,22(z1),40-42.
dc:identifier:DOI:10.3969/j.issn.1002-8978.2003.z1.016
dc: identifier:ISBN:1002-8978