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空间站舱门密封性能研究

文献类型	学位
作者	邵新杰[1]
机构	北京航空航天大学 ↓
授予学位	硕士
年度	2003
学位授予单位	北京航空航天大学
语言	中文
关键词	硅橡胶;载荷衰减;泄漏率;门锁装置;O形圈;舱门模型
摘要	该文在刚度很大的平板上对O形圈密封进行了大量的原理性泄漏率实验研究.对影响泄漏率的各种因素进行了研究,结果表明,在所实验的压缩率范围内(20﹪~40﹪)O形圈的压缩率越大其泄漏率越低;温度越高O形圈的泄漏率越大;高温和交变温度下载荷衰减对O形圈的影响较大,原子氧作用对O形圈泄漏率达影响比高温载荷衰减还大,尤其是原于氧和紫外线的综合作用对O形圈泄漏率达影响非常显著.试验结果表明,实验所用O形圈具有良好的密封性能,其泄漏率可以达到10<'-7>cm<'3>/(cm·s)数量级,能够满足空间站密封的要求.通过对有关舱门门锁资料的分析,根据前期提出和设计的门锁机构,利用大型软件UG对舱门模型进行了受力和变形分析,发现采用八个门锁比较适宜.

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dc:title:空间站舱门密封性能研究
dc:creator:邵新杰
dc:date: publishDate:1753-01-01
dc:type:学位
dc:format: Media：北京航空航天大学
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：北京航空航天大学.2003.
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