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ATS(自动测试系统)及ATE技术

外文标题	Rapid development of automatic test system and ATE technology
文献类型	期刊
作者	李行善[1];于劲松[2]
机构	[1]北京航空航天大学自动化学院 [2]北京航空航天大学自动化学院 ↓
来源信息	年:2002期:5页码范围:30-32
期刊信息	电子产品世界ISSN:1005-5517
关键词	自动测试系统;ATE;ATS;自动测试设备;仪器总线;测试程序集;GPIB;综合测试系统;接口适配器;ATLAS;
摘要	一般意义的自动测试系统是指那些采用计算机控制,能实现自动化测试的系统.这类系统通常是在标准的测控总线或仪器总线(CAMAC、GPIB、VXI、PXI等)的基础上组建而成的.
所属部门	自动化科学与电气工程学院
链接地址	http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_dzcpsj200205017.aspx
DOI	10.3969/j.issn.1005-5517.2002.05.017
人气指数	3
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检测与自动化工程于劲松

dc:title:ATS(自动测试系统)及ATE技术
dc:creator:李行善;于劲松
dc:date: publishDate:2002-03-10
dc:type:期刊
dc:format: Media：电子产品世界
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：电子产品世界.2002,30-32.
dc:identifier:DOI：10.3969/j.issn.1005-5517.2002.05.017
dc: identifier:ISBN:1005-5517