掺磷纳米硅薄膜的微结构
外文标题 | Structure Characteristics of Phosphorus-Doped Hydrogenated Nano-Crystalline Silicon Films |
文献类型 | 期刊 |
作者 | 于晓梅[1];王金良[2];江兴流[3];王天民[4] |
机构 | [1]北京航空航天大学理学院,北京航空航天大学理学院,北京航空航天大学理学院,北京航空航天大学理学院 [2]北京航空航天大学理学院,北京航空航天大学理学院,北京航空航天大学理学院,北京航空航天大学理学院 [3]北京航空航天大学理学院,北京航空航天大学理学院,北京航空航天大学理学院,北京航空航天大学理学院 [4]北京航空航天大学理学院,北京航空航天大学理学院,北京航空航天大学理学院,北京航空航天大学理学院 ↓ |
来源信息 | 年:2002卷:28期:5页码范围:547-549 |
期刊信息 | 北京航空航天大学学报ISSN:1001-5965 |
关键词 | 硅薄膜;晶粒;显微镜;团簇 |
摘要 | 采用喇曼(Raman)散射谱、高分辨率电子显微镜(HRTEM)和原子力显微镜(AFM)对掺磷纳米硅薄膜的微结构进行了分析,并对纳米硅薄膜的传导机制进行了探讨.结果表明:掺磷纳米硅薄膜由尺寸为2~4*#nm的晶粒和2~3个原子层厚的非晶界面构成,计算得到薄膜的晶态比为40%~55%.与本征纳米硅薄膜相比,掺磷纳米硅薄膜晶粒尺寸和晶态比没有明显变化,电导率却提高了2个数量级.随着掺磷浓度增加,纳米硅薄膜的晶粒尺寸、晶态比及电导率逐渐增大.AFM观察表明掺磷纳米硅薄膜由尺寸介于15~20*#nm的团簇构成,团簇排列具有带状特征. |
收录情况 | PKU |
所属部门 | 物理科学与核能工程学院 |
链接地址 | http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_bjhkhtdxxb200205013.aspx |
DOI | 10.3969/j.issn.1001-5965.2002.05.013 |
人气指数 | 2 |
浏览次数 | 2 |
全文
影响因子:
物理系
dc:title:掺磷纳米硅薄膜的微结构
dc:creator:于晓梅;王金良;江兴流,等
dc:date: publishDate:2002-10-30
dc:type:期刊
dc:format: Media:北京航空航天大学学报
dc:identifier: LnterrelatedLiterature:北京航空航天大学学报.2002,28(5),547-549.
dc:identifier:DOI:10.3969/j.issn.1001-5965.2002.05.013
dc: identifier:ISBN:1001-5965