软件缺陷变化规律的研究--软件缺陷曲线
| 文献类型 | 学位 |
| 作者 | 白成刚[1] |
| 机构 | 北京航空航天大学 ↓ |
| 授予学位 | 博士后 |
| 年度 | 2001 |
| 学位授予单位 | 北京航空航天大学 |
| 语言 | 中文 |
| 人气指数 | 1 |
| 浏览次数 | 1 |
| 关键词 | 软件缺陷曲线;软件可靠性;软件测试剖面;软件测试策略;Jelinski-Moranda模型;Golel-OkumotoNHPP模型;软件缺陷估计;Myers观点 |
| 摘要 | 该文研究了软件缺陷的变化规律,提出了软件缺陷曲线的概念.软件缺陷曲线描述了剩余缺陷估计值随测试进程的变化行为.软件缺陷曲线可表现为两种典型形态:单个梯形曲线形态和多个梯形曲线形态.前者出现在单测试剖面情形,后者出现在我剖面情形,即测试剖面是从一个剖面转向另一个剖面.提出软件缺陷曲线这一概念的起因主是要回答两个问题.第一个问题是随着测试进程剩余缺陷数的估计值是否减少;第二个问题是Myers关于发现缺陷越多剩余缺陷越多的观点是否合理. |
影响因子：
dc:title:软件缺陷变化规律的研究--软件缺陷曲线
dc:creator:白成刚
dc:date: publishDate:1753-01-01
dc:type:学位
dc:format: Media：北京航空航天大学
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：北京航空航天大学.2001.
dc:identifier:DOI：
dc: identifier:ISBN:
