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产品研制阶段可靠性增长过程的综合分析

文献类型	会议
作者	赵宇[1];王智[2];黄敏[3]
机构	[1]北京航空航天大学十四系可靠性信息工程部(北京 [2]北京航空航天大学十四系可靠性信息工程部(北京 [3]北京航空航天大学十四系可靠性信息工程部(北京 ↓
会议论文集	2001年中国航空学会可靠性工程学术年会论文集
来源信息	年:2001页码范围:256-259
会议信息	2001年中国航空学会可靠性工程学术年会ISSN:
关键词	可靠性增长;综合分析;航空设备
摘要	产品在整个研制阶段要进行各种不同目的的试验,其实际的可靠性水平是不断提高的.提出了综合的可靠性增长的概念,并探讨了采用可靠性增长分析的方法,综合利用各种试验数据进行可靠性评估的思路和方法.
全文链接	http://d.g.wanfangdata.com.cn/Conference_3309673.aspx
会议地点	武夷山
会议开始日期	2001-05-01

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dc:title:产品研制阶段可靠性增长过程的综合分析
dc:creator:赵宇;王智;黄敏
dc:date: publishDate:2001-05-01
dc:type:会议
dc:format: Media：2001年中国航空学会可靠性工程学术年会
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：2001年中国航空学会可靠性工程学术年会.2001,256-259.
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dc: identifier:ISBN: