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工业计算机薄片层析及其板,壳材料检测

文献类型	会议
作者	路宏年[1];杨民[2];张吉堂[3]
机构	[1]北京航空航天大学现代无损检测中心 [2]北京航空航天大学现代无损检测中心 [3]北京航空航天大学现代无损检测中心 ↓
会议论文集	CT理论与应用研究/2000增刊
来源信息	年:2000页码范围:116-118
会议信息	国际CT和三维断面成像理论与应用学术会议ISSN:
关键词	射线检测;ICT;板壳材料;工业CT;断层扫描;材料检测
摘要	本文讨论了工业射线计算机薄片层析(CL,Computed Laminography)在板、壳材料结构检测中的应用,研究了一种抑制环形伪像的重构方法,并对其应用与重构方法进行了实验研究和计算机模拟.
全文链接	http://d.g.wanfangdata.com.cn/Conference_4862564.aspx
会议地点	北京
会议开始日期	2000-10-05

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dc:title:工业计算机薄片层析及其板,壳材料检测
dc:creator:路宏年;杨民;张吉堂
dc:date: publishDate:2000-10-05
dc:type:会议
dc:format: Media：国际CT和三维断面成像理论与应用学术会议
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：国际CT和三维断面成像理论与应用学术会议.2000,116-118.
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dc: identifier:ISBN: