高精度光栅干涉测量技术及仪器
外文标题 | Grating Interference Measuring Technique and Instrument with High Accuracy |
文献类型 | 期刊 |
作者 | 李成贵[1];董申[2] |
机构 | [1]北京航空航天大学自动控制系 [2]哈尔滨工业大学精密工程研究所,哈工大426信箱,150001 ↓ |
来源信息 | 年:2000卷:20期:1页码范围:36-39 |
期刊信息 | 航空计测技术ISSN:1002-6061 |
关键词 | 测量;光栅;激光;干涉仪 |
摘要 | 在超精密测量和控制技术中,对测量精度提出了越来越高的要求,如尺寸精度1 nm和角度0.001″.由于光栅测量具有精度高、抗干扰能力强、寿命长和价格便宜等优点,最近几年光栅干涉测量技术被广泛研究和使用.本文简单介绍几种在超精密测量和制造过程中常用的微纳米光栅干涉测量技术. |
所属部门 | 自动化科学与电气工程学院 |
链接地址 | http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_hkjcjs200001012.aspx |
DOI | 10.3969/j.issn.1674-5795.2000.01.012 |
人气指数 | 2 |
浏览次数 | 2 |
全文
影响因子:
dc:title:高精度光栅干涉测量技术及仪器
dc:creator:李成贵;董申
dc:date: publishDate:1753-01-01
dc:type:期刊
dc:format: Media:航空计测技术
dc:identifier: LnterrelatedLiterature:航空计测技术.2000,20(1),36-39.
dc:identifier:DOI:10.3969/j.issn.1674-5795.2000.01.012
dc: identifier:ISBN:1002-6061