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工业计算机薄片层析及其板、壳材料检测

文献类型	会议
作者	路宏年[1];杨民[2];张吉堂[3]
机构	[1]北京航空航天大学现代无损检测中心 [2]北京航空航天大学现代无损检测中心 [3]北京航空航天大学现代无损检测中心 ↓
会议论文集	2000年国际CT和三维断面成像理论与应用会议论文集
来源信息	年:2000卷:Vol.9页码范围:3
会议信息	2000年国际CT和三维断面成像理论与应用会议ISSN:
关键词	射线检测;ICT;板壳
摘要	本文讨论了工业射线计算机薄片层析(cL,computed Laminography)在板、壳材料结构检测中的 应用,研究了一种抑制环形伪像的重构方法,并对其应用与重构方法进行了实验研究和计算机模拟。
会议地点	中国北京
会议开始日期	2000-06-30

影响因子：


暂无成果共有人
dc:title:工业计算机薄片层析及其板、壳材料检测
dc:creator:路宏年;杨民;张吉堂
dc:date: publishDate:2000-06-30
dc:type:会议
dc:format: Media：2000年国际CT和三维断面成像理论与应用会议
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：2000年国际CT和三维断面成像理论与应用会议.2000,Vol.9,3.
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dc: identifier:ISBN: