机载电子设备可靠性鉴定试验研究
| 文献类型 | 学位 |
| 作者 | 项江霖[1] |
| 机构 | 北京航空航天大学 ↓ |
| 授予学位 | 硕士 |
| 年度 | 2000 |
| 学位授予单位 | 北京航空航天大学 |
| 语言 | 中文 |
| 关键词 | 电子设备;可靠性鉴定;可靠性试验;数据处理;机载电子设备 |
| 摘要 | 该文对指数分布可靠性鉴定试验进行了全面论述,包括综合环境条件的确定和统计试验方案的选取,并针对工程实践中提出的有关问题开展了专题,最后,利用空军"八五"期间12项机载电子设备共40台套设备累计15622 台时的试验数据,对可靠性鉴定试验结果、千元器件可靠性水平、故障及其发生时机、故障原因分类等进行了综合分析,并对试验方案的选取进行了对比研究.分析结果,平均每千元器件设备的可靠性下限估计达到727小时, 且随着设备复杂性提高,元器件数每增加一千,下降约330小时, 元器件失效引起设备故障占总故障的43.4﹪.对目前机载电子设备来说,方案17是比较适宜的鉴定试验方案, 方案6与方案17具有比较好的一致性. |
影响因子：
dc:title:机载电子设备可靠性鉴定试验研究
dc:creator:项江霖
dc:date: publishDate:1753-01-01
dc:type:学位
dc:format: Media：北京航空航天大学
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：北京航空航天大学.2000.
dc:identifier:DOI：
dc: identifier:ISBN:
