用于冗余传感器系统FDI的两种方法比较
| 文献类型 | 会议 |
| 作者 | 金宏[1];张洪钺[2] |
| 机构 | [1]北京航空航天大学301教研室 [2]北京航空航天大学301教研室 ↓ |
| 会议论文集 | 第一届全国技术过程的故障诊断与安全性学术会议论文集 |
| 来源信息 | 年:1999页码范围:20～25 |
| 会议信息 | 第一届全国技术过程的故障诊断与安全性学术会议ISSN: |
| 关键词 | 故障检测;冗余系统;传感器故障 |
| 摘要 | 该文对最优奇偶向量检测法和广义然比检测法进行了讨论、比较，通过对由六个传感器构成的冗余系统，比较了它们的故障检测率、隔离率及错误隔离率，仿真结果显示：最优奇偶向量检测法提高了故障的检测率和隔离率。 |
| 全文链接 | http://d.g.wanfangdata.com.cn/Conference_115381.aspx |
| 会议地点 | 北京 |
| 会议开始日期 | 1999-05-21 |
| 人气指数 | 1 |
| 浏览次数 | 1 |
全文
影响因子：
dc:title:用于冗余传感器系统FDI的两种方法比较
dc:creator:金宏;张洪钺
dc:date: publishDate:1999-05-21
dc:type:会议
dc:format: Media：第一届全国技术过程的故障诊断与安全性学术会议
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：第一届全国技术过程的故障诊断与安全性学术会议.1999,20～25.
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