起落架落震冲击缓冲器行程测试装置
| 文献类型 | 专利 |
| 发明人 | 吴大方[1];高镇同[2];杨嘉陵[3];孟庆春[4] |
| 机构 | 北京航空航天大学 ↓ |
| 申请人 | 北京航空航天大学 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 年度 | 1999 |
| 专利申请日期 | 1999-10-28 |
| 专利公开日期 | 2001-02-14 |
| 专利公开号 | CN2419590 |
| 专利申请号 | CN99249075.8 |
| 摘要 | 一种起落架落震冲击缓冲器行程测试装置，其特征是：光电编码器与位移测试轮连接，位移传输条带与位移测试轮之间为柔性滑动摩擦接触方式，卷形拉伸弹簧与位移传输条带连接，位移测试轮的上下两测各安装导向压轮，光电编码器、位移测试轮、导向压轮与卷形拉伸弹簧通过可拆卸式活动连接件固定在起落架主轴上，以保证不破坏起落架机轮的结构和强度。本实用新型的优点是：位移测试轮与位移传输条带为柔性接触方式，因此光电编码器可在强烈的冲击振动条件下，通过位移测试轮的转角变化准确测得转动脉冲数据，由计算机计算出飞机着地瞬间起落架缓冲器行程的动态变化过程。 |
影响因子：
飞行器结构强度系（固体所）
dc:title:起落架落震冲击缓冲器行程测试装置
dc:creator:吴大方;高镇同;杨嘉陵,等
dc:date: publishDate:1999-10-28
dc:type:专利
dc:format: Media：
dc:identifier: LnterrelatedLiterature：1999.
dc:identifier:DOI：
dc: identifier:ISBN:
