混合介质层类同轴硅通孔(coaxially-shielded through-silicon-via with mixed dielectric layer, MD CSTSV)结构由于其电学性能优良、制备工艺简单和成本低廉的特点,在高密度射频封装领域中具有极大的应用前景. 本文基于多导体传输线理论和引入比例因子<i>λ</i>的环形介质层的复电容的计算公式,提取了该结构的单位长度RLGC电学参数, 并建立了相应的等效电路模型. 在0.1~40 GHz的频率范围内,利用MD CSTSV的等效电路模型仿真计算得到的<i>S</i>参数结果与基于HFSS全波仿真得到的<i>S</i>参数结果之间匹配良好,最大误差不超过7%. 相关结果表明,所提取的MD CSTSV的单位长度RLGC电学参数以及相应的等效电路模型较为准确且可以很好地模拟其信号传输性能.
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