为了实现气溶胶分布的成像探测，根据平面激光诱导荧光技术的基本原理，对气溶胶浓度分布平面探测系统单个像元的探测能力进行了理论分析. 以荧光素作为目标粒子，对波长为450 nm的连续激光在探测平面内的分布和衰减变化进行了计算，并根据波长范围为500~600 nm的荧光信号和sCMOS相机单个像元输出信号的信噪比公式，分析了不同系统参数变化对单个像元可探测最低粒子数的影响，以及在探测平面内的分布差异，从而了解不同系统参数对气溶胶平面成像探测准确度的影响规律，为研究气溶胶分布的平面探测提供有效方法和理论参考.
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