延迟锁相环中的压控延迟线是对单粒子事件（single event， SE）最敏感的子电路之一，其主要包括偏置电路和压控延时单元.利用双指数电流拟合3-D TCAD混合仿真中的单粒子瞬态（single-event transient， SET）电流，分析了压控延迟线对SE的敏感性.根据响应程度和电路结构的不同，对偏置电路进行了冗余加固；同时，对压控延时单元中提出了SET响应检测电路.在输入信号频率为1 GHz，电源电压1.2 V，入射粒子LET值为80 MeV·cm<sup>2</sup>/mg的条件下，Spice仿真表明：和未加固电路相比，偏置电压<i>V</i><sub>bn</sub>和<i>V</i><sub>bp</sub>在受到粒子轰击后，翻转幅度分别下降了75%和60%，消除了输出时钟信号中的丢失脉冲；设计出的检测电路能够将各种情况下有可能出现的SET响应指示出来，提高了输出时钟信号的可靠性.
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一种抗单粒子瞬态加固的压控延迟线设计
本站小编 Free考研考试/2023-12-02
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