姓　名：黄正峰

职　称：教授，博士生导师

职　务：创新中心主任

所属系：集成电路系

邮　箱：huangzhengfeng@139.com

电　话：**

个人简介：工作经历：
2017.12~至今 合肥工业大学，教授
2014.01~2015.01 德国帕德伯恩大学，访问****
2004.06~2017.11 合肥工业大学，讲师、副教授
教育背景：
2005.09~2009.12 合肥工业大学，博士
2001.09~2004.06 合肥工业大学，硕士
1996.09~2000.06 合肥工业大学，学士
研究方向：1.数字集成电路的硬件容错设计
2.数字集成电路的抗辐射加固设计
3.数字集成电路的可靠性设计、可测性设计
开设课程（本科生、研究生）：本科生课程《数字逻辑电路》
研究生课程《超大规模集成电路测试基础》
科研项目：1.国家自然科学基金面上项目“考虑波动的单粒子双点翻转加固单元设计关键技术研究”，2019~2022，66万，主持。
2.国家自然科学基金面上项目“星载系统芯片(SoC)的抗辐射加固设计研究”，2016~2019，64万，主持。
3.国家自然科学基金青年项目“容忍软错误的SoC 芯片可靠性设计关键技术研究”，2012~2014，25万，主持。
4.国家自然科学基金面上项目“三维片上网络通信自适应容错方法研究”，2015~2018，77万，参加。
5.国家自然科学基金面上项目“基于老化特征的集成电路失效预测与防护”，2013~2016，83万，参加。
代表成果（著作、论文、专利等，限10项）：1.Aibin Yan , Yafei Ling, Jie Cui , Zhili Chen , Zhengfeng Huang(黄正峰)*, Jie Song, Patrick Girard, Xiaoqing Wen. Quadruple Cross-Coupled Dual-Interlocked-Storage-Cells based Multiple-Node-Upset-Tolerant Latch Designs[J]. IEEE Transactions on Circuits and Systems—I: Regular Papers, 2020, 67(3): 879-890
2.Aibin Yan, Yuanjie Hu, Jie Cui, Zhili Chen, Zhengfeng Huang(黄正峰), Tianming Ni*, Patrick Girard, Xiaoqing Wen. Information Assurance through Redundant Design: A Novel TNU Error-Resilient Latch for Harsh Radiation Environment[J]. IEEE Transactions on Computers, 2020, 69(6): 789-799
3.Tianming Ni, Yao Yao, Hao Chang, Lin Lu, Huaguo Liang, Aibin Yan, Zhengfeng Huang(黄正峰)*,Xiaoqing Wen. LCHR-TSV: Novel Low Cost and Highly Repairable Honeycomb- Based TSV Redundancy Architecture for Clustered Faults[J]. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 2020, 39(10): 2938-2951
4.Qi Xu, Song Chen, Hao Geng, Bo Yuan, Bei Yu, Feng Wu, Zhengfeng Huang(黄正峰)*. Fault tolerance in memristive crossbar-based neuromorphic computing systems[J]. Integration, the VLSI Journal, 2020, 70:70–79
5.Aibin Yan, Zhengfeng Huang(黄正峰)*,Xiangsheng Fang, Yiming Ouyang, Honghui Deng. Single event double-upset fully immune and transient pulse filterable latch design for nanoscale CMOS[J]. Microelectronics Journal, 2017, 61: 43-50
6.Xiumin Xu, Huaguo Liang, Zhengfeng Huang(黄正峰)*, Cuiyun Jiang, Yiming Ouyang, Xiangsheng Fang, Tianming Ni, Maoxiang Yi. A highly reliable butterfly PUF in SRAM-based FPGAs [J]. IEICE Electronics Express, 2017,14(14):1-6
7.Huaguo LIANG, Xin LI, Zhengfeng HUANG(黄正峰)*, Aibin YAN, Xiumin XU. Highly Robust Double Node Upset Resilient Hardened Latch Design [J]. IEICE Transactions on Electronics,2017,E100-C(5): 496-503
8.Zhengfeng Huang(黄正峰), Huaguo Liang, Sybille Hellebrand*. A High Performance SEU Tolerant Latch [J]. Journal of Electronic Testing, 2015,31(4):349-359
9.Zhengfeng Huang(黄正峰). A High Performance SEU-Tolerant Latch for Nanoscale CMOS Technology [C] // Proc. of Design, Automation and Test in Europe (DATE), Dresden,Germany, 2014：1-5
10.黄正峰,凤志成,姚慧杰,梁华国,易茂祥,欧阳一鸣,鲁迎春. 一种基于双输入反相器的容忍双点翻转锁存器[P]. 中国专利：ZL 3.6，2020-09-08.
获奖荣誉：1.2019年获得安徽省教学成果奖一等奖，项目名称：“知行融创、数质并举——集成电路人才培养模式创新与实践”。
2.2016年获得安徽省电子学会科技奖二等奖，项目名称：“集成电路自测试和自恢复方法研究”。
3.2013年获得安徽省教学成果奖一等奖，项目名称：“电子科学与技术专业人才培养与教学模式创新性研究与实践”。
4.2013年获得安徽省第七届自然科学优秀学术论文三等奖，项目名称：“一种软错误的BIST结构”。
5.2011年度获得教育部科技成果完成者证书，项目名称：“数字芯片测试技术研究”。
6.2009年度安徽省科学技术奖三等奖，项目名称：“系统芯片SOC自测试方法研究”。
学术兼职1.2020年第11届中国测试学术会议（CTC 2020）程序委员会委员。
2.2019年第18届全国容错计算学术会议（CFTC 2019）程序委员会委员。
3.2018年第27届IEEE亚洲测试学术会议( ATS2018)程序主席。
4.2017年第17届全国容错计算学术会议（CFTC 2017）宣传主席。
5.2016年第9届中国测试学术会议（CTC 2016）“容错芯片与电路”分会主席。
6.2014年第19届欧洲测试会议（ETS 2014）组织委员会委员。
7.中国计算机学会第9届容错计算专业委员会常务委员（2020~2023）。
8.国家自然科学基金项目通讯评审专家。
9.国际期刊Transactions on Device and Materials Reliability、IEEE Design & Test、TVLSI、Microelectronics Reliability、Journal of Electronic Testing: Theory and Applications审稿人。
个人（实验室）主页：http://ca.hfut.edu.cn/